| 廠商名稱 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號 | 貨期(周) | 產(chǎn)品價格 |
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| 日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532022 | 洽詢 | 洽詢 |
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可測量元素 |
原子序數(shù)13(Al)~83(Bi) |
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X射線聚光 聚光方式 |
X射線源 |
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管電壓 |
50kV |
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管電流 |
1mA |
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檢測器 |
Vortex®檢測器(無需液氮) |
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分析范圍 |
Φ0.1mm、Φ5mm |
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樣品觀察 |
彩色CCD攝像頭(附變焦功能) |
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濾波器 |
3種模式自動切換 |
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樣品平臺 |
240(W)×330(D)mm |
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移動量 |
X:220mm Y:150mm Z:150mm |
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載重量 |
10kg |
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重量 |
123kg(不含電腦) |
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X-ray Station |
臺式電腦 19"LCD (OS; Microsoft-Windows XP®) |
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膜厚測量軟件 |
薄膜FP法(最多五層,各層十種元素) |
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定量分析功能 |
塊體FP法 |
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統(tǒng)計處理功能 |
Microsoft-EXCEL® |
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報告制作 |
Microsoft-WORD® |
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安裝環(huán)境 |
溫度:10℃~35℃(±)5℃ |
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使用電源 |
接地三頭插座 AC100、15A |
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可測量元素 |
原子序數(shù)13(Al)~83(Bi) |
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X射線聚光 聚光方式 |
X射線源 |
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管電壓 |
50kV |
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管電流 |
1mA |
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檢測器 |
Vortex®檢測器(無需液氮) |
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分析范圍 |
Φ0.1mm、Φ5mm |
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樣品觀察 |
彩色CCD攝像頭(附變焦功能) |
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濾波器 |
3種模式自動切換 |
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樣品平臺 |
240(W)×330(D)mm |
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移動量 |
X:220mm Y:150mm Z:150mm |
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載重量 |
10kg |
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重量 |
123kg(不含電腦) |
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X-ray Station |
臺式電腦 19"LCD (OS; Microsoft-Windows XP®) |
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膜厚測量軟件 |
薄膜FP法(最多五層,各層十種元素) |
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定量分析功能 |
塊體FP法 |
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統(tǒng)計處理功能 |
Microsoft-EXCEL® |
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報告制作 |
Microsoft-WORD® |
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安裝環(huán)境 |
溫度:10℃~35℃(±)5℃ |
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使用電源 |
接地三頭插座 AC100、15A |
| 產(chǎn)品訂貨號 | 產(chǎn)品介紹 | 符合標準 | 最小訂量 | 價格 | 貨期 | 備注 |
| A1532022 | X射線熒光鍍層厚度測量儀:可測量元素:原子序數(shù)13(Al)~83(Bi);X射線聚光 聚光方式:X射線源;管電壓:50kV;管電流:1mA;檢測器:Vortex®檢測器(無需液氮);分析范圍:Φ0.1mm、Φ5mm;樣品觀察:彩色CCD攝像頭(附變焦功能);濾波器:3種模式自動切換;樣品平臺:240(W)×330(D)mm;移動量:X:220mm Y:150mm Z:150mm;載重量:10kg;重量:123kg(不含電腦);X-ray Station:臺式電腦 19"LCD (OS; Microsoft-Windows XP®);膜厚測量軟件:薄膜FP法(最多五層,各層十種元素);檢量線法:(單層、雙層、合金膜厚成分);定量分析功能:塊體FP法;統(tǒng)計處理功能:Microsoft-EXCEL®;報告制作:Microsoft-WORD®;安裝環(huán)境:溫度:10℃~35℃(±)5℃;濕度:35%~80%;使用電源:接地三頭插座 AC100、15A;可測量元素:原子序數(shù)13(Al)~83(Bi);X射線聚光 聚光方式:X射線源;管電壓:50kV;管電流:1mA;檢測器:Vortex®檢測器(無需液氮);分析范圍:Φ0.1mm、Φ5mm;樣品觀察:彩色CCD攝像頭(附變焦功能);濾波器:3種模式自動切換;樣品平臺:240(W)×330(D)mm;移動量:X:220mm;Y:150mm Z:150mm;載重量:10kg;重量:123kg(不含電腦);X-ray Station:臺式電腦 19"LCD (OS; Microsoft-Windows XP®);膜厚測量軟件:薄膜FP法(最多五層,各層十種元素);檢量線法:(單層、雙層、合金膜厚成分);定量分析功能:塊體FP法;統(tǒng)計處理功能:Microsoft-EXCEL®;報告制作:Microsoft-WORD®;安裝環(huán)境:溫度:10℃~35℃(±)5℃;濕度:35%~80%;使用電源:接地三頭插座 AC100、15A,;品牌:日本精工 | 1 | 洽詢 | 洽詢 | 備注 |
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X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532023 |
測定元素 原子序號22(Ti)~ 83(Bi) … | 洽詢 | 洽詢 |
涂層厚度測量儀 鍍層厚度測量儀 鍍層厚度分析儀 |
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X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532024 |
射線源 空冷式小型X射線管 準直器 … | 洽詢 | 洽詢 |
x射線熒光光譜 涂層厚度測量儀 鍍層厚度測量儀 |
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X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532025 |
射線源 空冷式小型X射線管 準直器 … | 洽詢 | 洽詢 |
x射線熒光分析 x射線熒光光譜 涂層厚度測量儀 |
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X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532026 |
射線源 空冷式小型X射線管 準直器 … | 洽詢 | 洽詢 |
x射線熒光分析 x射線熒光光譜 涂層厚度測量儀 |
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