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艾測(cè)電子科技有限公司

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產(chǎn)品目錄

廠商名稱	產(chǎn)品名稱	產(chǎn)品訂貨號(hào)	貨期（周）	產(chǎn)品價(jià)格
中國(guó)	原子力顯微鏡AFM	A1130361	洽詢	洽詢

產(chǎn)品特點(diǎn)

原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過(guò)掃描探針與樣品表

面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描，探針固定在對(duì)

探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后

發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光，最后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。　
儀器特點(diǎn):

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。

步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖－－樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。

深度陡度測(cè)量，三維顯示。

納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。

Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域．

標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡

樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。

掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒

可選配納米刻蝕功能模塊。

技術(shù)指標(biāo)

AFM探頭

樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。

XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米

0.25nm

0.03nm(云母定標(biāo))

XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米

掃描器、針尖座智能識(shí)別

44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)

AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）

全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)）

測(cè)量特性

電子學(xué)控制器:
XYZ控制	18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣	14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋	DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率	64.0KHz
高壓放大器	集成高壓運(yùn)算放大器，最大電壓范圍+/-150V
頻率范圍	---
幅度范圍	---
掃描速率	21Hz
掃描角度	0-360度
掃描偏移	任意
圖像采樣點(diǎn)	256X256或512X512
步進(jìn)馬達(dá)控制	手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退
計(jì)算機(jī)接口	標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

物理特性

可選附件

持有證書(shū)

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表

產(chǎn)品訂貨號(hào)	產(chǎn)品介紹	符合標(biāo)準(zhǔn)	最小訂量	價(jià)格	貨期	備注
A1130361	原子力顯微鏡AFM：AFM探頭；樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm；XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米；0.25nm；0.03nm(云母定標(biāo))；XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米；掃描器、針尖座智能識(shí)別；44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)；AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）；全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)），；品牌：中國(guó)		1	洽詢	洽詢	備注