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產品目錄
| 廠商名稱 | 產品名稱 | 產品訂貨號 | 貨期（周） | 產品價格 |
|---|---|---|---|---|
| 中國 | 輕敲式原子力顯微鏡TAFM | A1130362 | 洽詢 | 洽詢 |
產品特點
原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表
面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對
探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后
發生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對
探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后
發生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術指標
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY最大掃描范圍：標準6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.25nm（AFM模式）
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標)；0.03nm（AFM云母定標）
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
步進馬達自動進行針尖-樣品逼近
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)
AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY最大掃描范圍：標準6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.25nm（AFM模式）
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標)；0.03nm（AFM云母定標）
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
步進馬達自動進行針尖-樣品逼近
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)
AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購
測量特性
| 電子學控制器: | |
| XYZ控制 | 18-Bit D/A |
| 數據采樣 | 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 |
| Z向反饋 | DSP數字反饋 |
| 反饋采樣速率 | |
| 高壓放大器 | 集成高壓運算放大器，最大電壓范圍+/-150V |
| 頻率范圍 | 20K-1000KHz |
| 幅度范圍 | 0-10.0V |
| 掃描速率 | >40000點/秒 |
| 掃描角度 | 0-360度 |
| 掃描偏移 | 任意 |
| 圖像采樣點 | 256X256或512X512 |
| 步進馬達控制 | 手動和自動進退 |
| 計算機接口 | 標準RS232串行/USB |
物理特性
可選附件
持有證書
備注
產品規格列表
| 產品訂貨號 | 產品介紹 | 符合標準 | 最小訂量 | 價格 | 貨期 | 備注 |
| A1130362 | 輕敲式原子力顯微鏡TAFM：AFM探頭；樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm；XY最大掃描范圍：標準6X6微米；XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.25nm（AFM模式）；Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標)；0.03nm（AFM云母定標）；XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米；步進馬達自動進行針尖-樣品逼近；44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)；AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）；全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購，；品牌： 中國 | 1 | 洽詢 | 洽詢 | 備注 |
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